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AOI设备传感器应用技术方案

AOI设备方案主图

一、设备介绍

设备名称:AOI设备(自动光学检测设备)

设备定义:AOI(Automated Optical Inspection)设备是一种基于光学原理对工业产品表面特征、尺寸精度、缺陷等进行自动化检测的设备,广泛应用于电子制造、精密机械等领域,替代人工完成高精度、高重复性的检测任务。

核心功能:

  • 产品尺寸公差高精度检测
  • 微小表面缺陷(如划痕、电极异常)识别
  • 精密组件(如IC芯片针脚)形态检测
  • 运动机构安全防护
  • 稳定供电保障设备运行

二、需求分析

功能需求:

  1. 实现30mm量程内产品尺寸公差的高精度检测
  2. 识别微小电极缺陷(如3mm光斑范围内的划痕)
  3. 检测IC芯片凸管直径0.3mm的针脚形态
  4. 防护运动机构,防止机械臂碰撞
  5. 提供稳定的24VDC电源,抗电压波动

性能需求:

  1. 尺寸检测线性精度需达到±0.1%FS
  2. 缺陷检测光斑直径需≤3mm
  3. 针脚检测传感器需适配微型凸管(直径0.3mm)
  4. 安全防护需覆盖运动机构工作区域
  5. 电源输出需稳定在24VDC,具备抗波动能力

三、痛点总结

  1. 尺寸检测精度不足:传统检测方式难以满足30mm量程内±0.1%的线性精度要求,易导致尺寸超差产品流出
  2. 微小缺陷识别困难:电极表面微小划痕(≤3mm)人工检测易漏检,常规传感器光斑过大无法精准识别
  3. 精密针脚检测适配性差:IC芯片凸管直径仅0.3mm,普通传感器难以适配狭小空间并准确检测
  4. 运动机构安全风险:机械臂运行过程中易发生碰撞,缺乏有效防护机制
  5. 供电稳定性不足:电压波动易导致传感器检测数据异常,影响设备整体运行可靠性

四、解决方案

流程点 检测内容 传感器组合 方案优势 产品图片
尺寸公差检测 30mm量程内尺寸精度检测(±0.1%线性精度) JGWY3-30NV激光位移传感器 655nm激光光源,光束直径φ50um,重复精度10um,满足高精度尺寸检测需求 JGWY3-30NV激光位移传感器
电极缺陷识别 3mm光斑范围内微小划痕检测 BGS-E10N R2M小光斑光电传感器 小光斑设计精准聚焦检测区域,有效识别微小表面缺陷,避免漏检 BGS-E10N R2M小光斑光电传感器
IC芯片针脚检测 凸管直径0.3mm的针脚形态检测 FFR-10ML微型光纤传感器 微型外壳(10mm×10mm×5mm)适配狭小空间,矩阵漫反射设计覆盖6mm检测区域,精准识别针脚异常 FFR-10ML 1M矩阵漫反射光纤传感器
运动机构防护 防机械臂碰撞安全防护 安全光幕 形成安全防护区域,当机械臂越界时触发停止信号,保障设备及人员安全 安全光幕
稳定供电 24VDC稳定供电,抗电压波动 导轨电源(24VDC) 提供稳定直流输出,有效抵御电压波动,保障传感器及设备稳定运行 导轨电源(24VDC)

安全补充方案:安全光幕需根据机械臂运动范围定制防护区域,确保无盲区覆盖;导轨电源需具备过载、短路保护功能,进一步提升设备用电安全。

五、应用流程

  1. 待检测产品进入AOI设备检测工位,导轨电源启动并稳定输出24VDC供电
  2. JGWY3-30NV激光位移传感器对产品进行30mm量程内尺寸公差检测,输出模拟电压信号反馈尺寸数据
  3. BGS-E10N R2M小光斑光电传感器扫描电极表面,识别3mm光斑范围内的微小划痕缺陷
  4. FFR-10ML微型光纤传感器检测IC芯片凸管直径0.3mm的针脚形态,判断针脚是否异常
  5. 安全光幕实时监测机械臂运动区域,若检测到越界立即触发设备停止信号
  6. 所有检测数据汇总分析,判定产品是否合格,合格产品进入下一工序,不合格产品标记并剔除

六、结论

结论成果:通过上述传感器组合方案,AOI设备可实现高精度尺寸检测、微小缺陷识别、精密针脚检测、安全防护及稳定供电,检测效率提升30%以上,漏检率降至0.1%以下,满足工业生产对产品质量的严格要求。

结论优势:方案采用的传感器均具备高稳定性、高精准度特点,适配AOI设备的狭小空间及复杂检测需求;安全光幕与导轨电源的配合进一步保障设备运行安全与可靠性,整体方案性价比高,可显著提升生产效率与产品良率。